Comparación de algoritmos MPPT aplicados a un conversor SEPIC en sistemas fotovoltaicos.

Mejia Bugallo, Diego Armando.

Repositorio Institucional

Universidad de Pamplona

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Title:	Comparación de algoritmos MPPT aplicados a un conversor SEPIC en sistemas fotovoltaicos.
Authors:	Mejia Bugallo, Diego Armando.
Keywords:	El autor no proporciona la información sobre este ítem
Issue Date:	2016
Publisher:	Universidad de Pamplona – Facultad de Ingenierías y Arquitectura.
Citation:	Mejia Bugallo, D. A. (2015). Comparación de algoritmos MPPT aplicados a un conversor SEPIC en sistemas fotovoltaicos [Trabajo de Grado Maestría, Universidad de Pamplona]. Repositorio Hulago Universidad de Pamplona. http://repositoriodspace.unipamplona.edu.co/jspui/handle/20.500.12744/2291
Abstract:	El autor no proporciona la información sobre este ítem
Description:	A partir del conocimiento que se tiene del agotamiento de los recursos convencionales (productos fósiles) para el futuro (petróleo, carbón y gas), la necesidad de reducir las emisiones de gases nocivos en la atmósfera y las preocupaciones sobre el cambio climático, surgen los incentivos para el uso de energía renovable y un gran interés por este tema (el cual se ha incrementado, en gran medida, en el marco del protocolo de Kyoto). El presente trabajo aborda el estudio y la aplicación de diferentes técnicas para el seguimiento del punto de máxima potencia en los módulos fotovoltaicos (MPPT). Estos se acoplaron a un convertidor de topología SEPIC (Single-Ended Primary-Inductance Converter) para controlar el aumento o disminución de la tensión producida por los mismos, usando un microcontrolador de bajo coste de adquisición que desarrolla los códigos de la técnica de control MPPT. En los resultados, finalmente, se presentan las simulaciones para probar la teoría expuesta y un prototipo experimental construido en el laboratorio con el fin de comprobar la eficacia de las técnicas de control.
URI:	http://repositoriodspace.unipamplona.edu.co/jspui/handle/20.500.12744/2291
Appears in Collections:	Maestría en Controles Industriales

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